1. آشنایی با طیف سنجی پرتو ایکس
المؤلف: / ران جنکینز,An introduction to X-ray spectrometry
المکتبة: المكتبة المركزية ومركز الوثائق بجامعة آراك (مرکزي)
موضوع: طیف‌سنجی اشعه ایکس
رده :
۵۳۷
/
۵۳۵۲
ج
۷۱۷
آ
2. آشنایی با طیف‌سنجی پرتو ایکس
المؤلف: ران جنکینز
المکتبة: مكتبة جامعة الإسلامية آزاد فرع قم (قم)
موضوع: طیف‌سنجی اشعه ایکس
رده :
QC
۴۸۲
/
ط
۹
ج
۹ ۱۳۸۱
3. آشنایی با طیف‌سنجی پرتو ایکس
پدیدآورنده : ران جنکینز
موضوع : طیف‌سنجی اشعه ایکس
۷ نسخه از این کتاب در ۶ کتابخانه موجود است.
4. آشنایی با طیف‌سنجی پرتو ایکس
المؤلف: جنکینز، رن، ۱۹۳۲-
المکتبة: (طهران)
موضوع: طیف‌سنجی اشعه ایکس
رده :
QC
۴۸۲
/
ط
۹
ج
۹ ۱۳۸۱
5. آشنایی با طیف‌سنجی پرتو ایکس
المؤلف: / ران جنکینز,عنوان به زبان اصلی: An introduction to X-ray spectrometry
المکتبة: المكتبة المركزية بجامعة تبريز و مركز التوثيق والنشر (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: طیف‌سنجی اشعه ایکس
رده :
QC
۴۸۲
/
ط
۹
ج
۹
6. آشنایی با طیف‌سنجی پرتو ایکس
المؤلف: جنکینز، رن، ۱۹۳۲ - م
المکتبة: کتابخانه کوثر دانشگاه قم (قم)
موضوع: طیف‌سنجی اشعه ایکس
رده :
QC
۴۸۲
/
ط
۹
ج
۹ ۱۳۸۱
7. آشنایی با طیف‌سنجی پرتو ایکس
المؤلف: جنکینز، رن Jenkins, Ron ۱۹۳۲- م
المکتبة: المکتبه المرکزيه ومرکز التوثیق بجامعة الشهید باهنر فی کرمان (کرمان)
موضوع: طیف‌سنجی اشعه ایکس
رده :
QC
۴۸۲
/
ط
۹
ج
۹ ۱۳۸۱
8. آشنایی با طیف‌سنجی پرتو ایکس
المؤلف: جنکینز، رن م - ۱۹۳۲
المکتبة: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی همدان (همدان)
موضوع: طیف‌سنجی اشعه ایکس
رده :
QC
۴۸۹
/
ط
۹
ج
۹
9. آشنایی با طیف‌سنجی پرتو ایکس
المؤلف: جنکینز، رن Jenkins, Ron ۱۹۳۲-
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)
موضوع: طیف‌سنجی اشعه ایکس
رده :
QC
۴۸۲
/
ط
۹
ج
۹
10. آشنایی با طیف‌سنجی پرتو ایکس
المؤلف: جنکینز، رن Jenkins, Ron ۱۹۳۲ - م
المکتبة: مکتبه الغدیر (یزد)
موضوع: طیف‌سنجی اشعه ایکس
رده :
QC
۴۸۲
/
ط
۹
ج
۹ ۱۳۸۱
11. آشنایی با طیف‌سنجی پرتو ایکس
المؤلف: جنکینز، رن Jenkins, Ron ۱۹۳۲-
المکتبة: المكتبة المركزية ومركز التوثيق (کلستان)
موضوع: طیف‌سنجی اشعه ایکس
رده :
QC
۴۸۲
/
ط
۹
ج
۹
12. تئوري XRF [ايکس. آر. اف.]
المؤلف: / [پيتر براور],براور,Brouwer
المکتبة: (خراسان رضوی)
موضوع: طيف سنجي,طيف‌سنجي ارتعاشي,شيمي تجزيه,طيف سنجي اشعه ايکس,طيف‌نمايي فلوئورساني
رده :
۵۴۳
/
۳۰ ۸۵۸
ب
۴۱۲
ت
13. خطوط و لبه ها‌ی جدبی MIV ,MV اشعه ایکس در فلزات کمیا‌ب
المؤلف: فا‌ضل زندی، ح
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: طیف‌سنجی اشعه ایکس
رده :
QC
۴۸۲
/
ف
۲۶
14. روشهای پیشرفته شناخت مواد
المؤلف: / گردآوری عبدالکریم سجادی، فرهاد صبا.,سجادی
المکتبة: سازمان اسناد و كتابخانه ملی جمهوری اسلامی ایران (طهران)
موضوع: شیمی تجزیه,تجزیه دستگاهی,طیف‌سنجی,اشعه ايكس ,اشعه ایکس ,میکروسکوپهای الکترونی, -- پراش سنج ,-- کاربردهای صنعتی
رده :
QD
۷۵
/
۲
/
س
۳
ر
۹ ۱۳۹۲
15. روشهای پیشرفته شناخت مواد: : مقدمه‌ای بر روشهای میکروسکوپی، طیف‌سنجی و آنالیز حرارتی
المؤلف: سجادی، عبدالکریم ۱۳۴۱ -
المکتبة: (سمنان)
موضوع: شیمی تجزیه,تجزیه دستگاهی,طیف‌سنجی,اشعه ایکس -- پراش سنج,اشعه ایکس -- کاربردهای صنعتی,میکروسکوپهای الکترونی
رده :
QD
۷۵
/
۲
/
س
۳
ر
۹
16. روشهای پیشرفته شناخت مواد: مقدمه‌ای بر روشهای میکروسکوپی، طیف‌سنجی و آنالیز حرارتی
المؤلف: گردآوری عبدالکریم سجادی، فرهاد صبا
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید مدنی آذربایجان (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: شیمی تجزیه,تجزیه دستگاهی,طیف‌سنجی,اشعه ایکس -- پراش سنج,اشعه ایکس -- کاربردهای صنعتی,میکروسکوپهای الکترونی
رده :
QD
،۷۵
/
۲،
/
س
۳
ر
۹،۱۳۹۲
17. روشهای پیشرفته شناخت مواد: مقدمه‌ای بر روشهای میکروسکوپی، طیف‌سنجی و آنالیز حرارتی
المؤلف: / گردآوری عبدالکریم سجادی و فرهاد صبا
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: شیمی تجزیه,تجزیه دستگاهی,طیف‌سنجی,اشعه‌ایکس -- پراش سنج,اشعه ایکس -- کاربردهای صنعتی,میکروسکوپهای الکترونی
رده :
QD
۷۵
/
۲
/
س
۳
ر
۹ ۱۳۹۱
18. روشهای پیشرفته شناخت مواد: مقدمه‌ای بر روشهای میکروسکوپی، طیف‌سنجی و آنالیز حرارتی
المؤلف: سجادی، عبدالکریم ۱۳۴۱ -
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه صنعتي خواجه نصير الدين طوسى (طهران)
موضوع: شیمی تجزیه,تجزیه دستگاهی,طیف‌سنجی,اشعه ایکس -- پراش سنج,اشعه ایکس -- کاربردهای صنعتی,میکروسکوپهای الکترونی
رده :
QD
۷۵
/
۲
/
س
۳
ر
۹
19. روشهای پیشرفته شناخت مواد: مقدمه‌ای بر روشهای میکروسکوپی، طیف‌سنجی و آنالیز حرارتی
المؤلف: / گردآوری: عبدالکریم سجادی، فرهاد صبا
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: شیمی تجزیه,تجزیه دستگاهی,طیف‌سنجی,اشعه ایکس -- پراش سنج,اشعه ایکس -- کاربردهای صنعتی,میکروسکوپهای الکترونی
رده :
QD
۷۵
/
۲
/
س
۳،
ر
۹
20. روشهای پیشرفته شناخت مواد : مقدمه‌ای بر روشهای میکروسکوپی، طیف‌سنجی و آنالیز حرارتی
المؤلف: سجادی، عبدالکریم ۱۳۴۱ -
المکتبة: المکتبۀ المرکزیۀ ومرکز التوثیق (سمنان)
موضوع: شیمی تجزیه,تجزیه دستگاهی,طیف‌سنجی,اشعه ایکس -- پراش سنج,اشعه ایکس -- کاربردهای صنعتی,میکروسکوپهای الکترونی
رده :
QD
۷۵
/
۲
/
س
۳
ر
۹ ۱۳۹۲
